Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China
Ultima versión
CNS 8104-1981
Alcance
1.1 Esta norma especifica el método de medición del voltaje crítico lineal de los transistores de efecto de campo semiconductores de óxido metálico (Nota 1, en lo sucesivo denominado MOSFET) en condiciones de baja frecuencia o CC. El método de conductancia de CC utilizado en esta norma es adecuado para el área de operación lineal de MOSEFT. Su voltaje de drenaje típico Vd es de aproximadamente 0,1 V. Se especifica el método de medición de su voltaje crítico de saturación.
CNS 8104-1981 Historia
1981CNS 8104-1981 Método para medir el voltaje de umbral lineal MOSFET