UNE-EN 62047-3:2006
Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 3: Probeta estándar de película delgada para ensayos de tracción (IEC 62047-3:2006) (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)
- Estándar No.
- UNE-EN 62047-3:2006
- Fecha de publicación
- 2007
- Organización
- ES-UNE
- Ultima versión
- UNE-EN 62047-3:2006
UNE-EN 62047-3:2006 Historia
- 2007 UNE-EN 62047-3:2006 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 3: Probeta estándar de película delgada para ensayos de tracción (IEC 62047-3:2006) (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)
