CNS 13623-1995
Métodos de prueba para medir la resistividad, el coeficiente Hall y determinar la movilidad Hall en semiconductores monocristalinos (método Van Der Pauw) (Versión en inglés)

Estándar No.

CNS 13623-1995

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

1995

Organización

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China

Estado

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Ultima versión

CNS 13623-1995

Alcance

Esta norma es aplicable a la medición y cálculo de la resistividad, el coeficiente Hall y la movilidad Hall de un solo chip.

CNS 13623-1995 Historia

• 1995 CNS 13623-1995 Métodos de prueba para medir la resistividad, el coeficiente Hall y determinar la movilidad Hall en semiconductores monocristalinos (método Van Der Pauw)