CNS 13805-1997
Método de medición de fotoluminiscencia de obleas semiconductoras optoelectrónicas (Versión en inglés)

Estándar No.

CNS 13805-1997

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

1997

Organización

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China

Ultima versión

CNS 13805-1997

Alcance

1.1 Esta norma se aplica a la medición del espectro láser óptico (Fotoluminiscencia) de chips semiconductores optoelectrónicos. 1.2 El rango de medición del espectro del láser óptico es solo el área iluminada por la fuente de luz de excitación y la profundidad extremadamente baja de la superficie. Esta profundidad está limitada por el poder de penetración de la fuente de luz y la distancia de difusión de los portadores fotoexcitados.

CNS 13805-1997 Historia

• 1997 CNS 13805-1997 Método de medición de fotoluminiscencia de obleas semiconductoras optoelectrónicas