PN-EN IEC 60749-30-2021-05 E
Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 30: Preacondicionamiento de dispositivos de montaje superficial no herméticos antes de las pruebas de confiabilidad (IEC 60749-30:2020)

Estándar No.

PN-EN IEC 60749-30-2021-05 E

Fecha de publicación

2021

Organización

PL-PKN

Remplazado por

PN-EN 60749-30-2007 P PN-EN 60749-30-2007/A1-2011 E