PN-EN IEC 60749-15-2021-04 E
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 15: Resistencia a la temperatura de soldadura para dispositivos montados en orificios pasantes (IEC 60749-15:2020).

Estándar No.

PN-EN IEC 60749-15-2021-04 E

Fecha de publicación

2021

Organización

PL-PKN

Remplazado por

PN-EN 60749-15-2011 E PN-EN 60749-15-2011/AC-2011 E