NF C93-621-6*NF EN 60444-6:2014 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 6: medición de la dependencia del nivel de excitación (DLD)
Esta parte de IEC 60444 se aplica a las mediciones de la dependencia del nivel de excitación (ELD) de resonadores de cuarzo. Se describen dos métodos de prueba (A y C) y un método de referencia (B). El método A, basado en la red pi según IEC 60444-1, se puede utilizar en todo el rango de frecuencia cubierto por esta parte de IEC 60444. Método de referencia B, basado en la red pi o en el método de reflexión de acuerdo con IEC 60444 -1, IEC 60444-5 o IEC 60444-8, se pueden utilizar en todo el rango de frecuencia cubierto por esta parte de IEC 60444. Método C, un cumplimiento
NF C93-621-6*NF EN 60444-6:2014 Historia
0000 NF C93-621-6:2014
2001NF C93-626:2001 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 6: medición de la dependencia del nivel de excitación (DLD).