JEDEC JESD22-C101F-2013
Método de prueba del modelo de dispositivo cargado inducido por campo para umbrales de resistencia a descargas electrostáticas de componentes microelectrónicos

Estándar No.

JEDEC JESD22-C101F-2013

Fecha de publicación

2013

Organización

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association