IEC 47A/887/CD:2012
CEI/TS 62132-9, ed. 1: Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética. Parte 9: Medición de la inmunidad radiada. Método de escaneo de superficie.

Estándar No.

IEC 47A/887/CD:2012

Fecha de publicación

2012

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

Remplazado por

IEC 47A/898/CD:2013