IEC 113/133/DTS:2012
CEI 62622, ed. 1: Nanotecnologías - Descripción, medición y parámetros de calidad dimensional de rejillas artificiales

Estándar No.

IEC 113/133/DTS:2012

Fecha de publicación

2012

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

Remplazado por

IEC/TS 62622:2012

Reemplazar

IEC 113/123/CD:2011