JEDEC JESD22-B108B-2010
Prueba de coplanaridad para dispositivos semiconductores de montaje superficial

Estándar No.
JEDEC JESD22-B108B-2010
Fecha de publicación
2010
Organización
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association



© 2023 Reservados todos los derechos.