JEDEC JESD22-B108B-2010
Prueba de coplanaridad para dispositivos semiconductores de montaje superficial
Inicio
JEDEC JESD22-B108B-2010
Estándar No.
JEDEC JESD22-B108B-2010
Fecha de publicación
2010
Organización
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
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