JIS C 5402-1-2:2005
Conectores para equipos electrónicos -- Pruebas y mediciones -- Parte 1-2: Examen general -- Prueba 1b: Examen de dimensión y masa

Estándar No.

JIS C 5402-1-2:2005

Fecha de publicación

2005

Organización

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Ultima versión

JIS C 5402-1-2:2005

Alcance

Esta norma especifica los métodos de prueba para pruebas dimensionales y masivas de conectores para equipos electrónicos (en adelante, conectores).

JIS C 5402-1-2:2005 Historia

• 2019 JIS C 5402-7-2:2019 Conectores para equipos electrónicos -- Pruebas y mediciones -- Parte 7-2: Pruebas de impacto (conectores libres) -- Prueba 7b: Impacto de resistencia mecánica
• 1992 JIS C 5402:1992 Método de prueba de conectores para uso en equipos electrónicos.