Los recientes avances en ciencia y tecnología han acercado los dispositivos electrónicos a nuestra vida diaria. Con respecto a los ciclos de vida de los productos electrónicos, se espera que algunos tengan una vida más larga en las aplicaciones importantes, mientras que otros se utilizan por períodos de vida más cortos. Es sorprendente cómo los mercados de aplicaciones de semiconductores se han expandido y diversificado en estos días. Por ejemplo, hay terminales portátiles que tienden a ser reemplazados con frecuencia, como los teléfonos móviles. Por otro lado, hay dispositivos electrónicos que requieren una larga vida útil en condiciones duras, como los componentes electrónicos para automóviles. La mayoría de estos productos electrónicos comprenden una gran cantidad de dispositivos semiconductores sin excepción. Los dispositivos semiconductores, compuestos por muchos materiales (silicio, capas de óxido, trazas de metales, dieléctricos, etc.), así como por más de mil millones de transistores y un número aún mayor de contactos, incluidos los paquetes que contienen dados, se han convertido en sistemas de enorme escala. . La evolución de la tecnología de semiconductores incluye la mejora de trazas y capas dieléctricas, como dieléctricos de puerta muy delgada, materiales de alta k y materiales de Cu/baja k, así como tecnologías de empaquetado de alta densidad que incluyen SiP y sustratos de acumulación. Se han logrado avances significativos hacia patrones más finos, mayor integración, mayor velocidad y menor consumo de energía. Los requisitos de fiabilidad para sistemas tan complejos de gran escala son los mismos que para los dispositivos convencionales o incluso estrictos. En comparación con los componentes mecánicos, los dispositivos semiconductores suelen presentar una mayor fiabilidad. Aún así, se requieren planes de garantía de confiabilidad adecuados de acuerdo con las aplicaciones y propósitos de los dispositivos. Por otra parte, las bases de los criterios de fiabilidad no siempre son técnicamente tangibles, aunque su duración de tensión o el número de ciclos de tensión ya hayan sido especificados en el programa de calificación. Uno de los ejemplos es la duración del estrés de 1000 horas en la prueba de vida útil de funcionamiento a alta temperatura o la prueba de polarización de temperatura y humedad. La prueba de aceleración tiene como objetivo predecir y verificar el nivel de confiabilidad. Para ello, se estima la aceleración adecuada a partir del mecanismo de fallo objetivo. Luego, el tiempo de prueba o los ciclos de tensión relevantes se determinan en función del factor de aceleración entre las condiciones de prueba y las condiciones de uso. Gracias a esta consideración, en algunos casos el tiempo de prueba o los ciclos de prueba se reducen significativamente, algo muy contrario al sentido común. Los mecanismos de falla en la prueba de estrés acelerado se pueden clasificar en modo intrínseco o modo extrínseco.