JEDEC JESD22-C101D-2008
Método de prueba del modelo de dispositivo cargado inducido por campo para umbrales de resistencia a descargas electrostáticas de componentes microelectrónicos

Estándar No.

JEDEC JESD22-C101D-2008

Fecha de publicación

2008

Organización

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association

Estado