JEDEC JESD51-2A-2008
Método de prueba térmica de circuitos integrados Condiciones ambientales: convección natural (aire en calma)
Inicio
JEDEC JESD51-2A-2008
Estándar No.
JEDEC JESD51-2A-2008
Fecha de publicación
2008
Organización
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
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