SIS SS-ISO 9220:1989

Estándar No.
SIS SS-ISO 9220:1989
Fecha de publicación
1989
Organización
SE-SIS
Alcance
Esta norma internacional especifica un método para medir el espesor local de recubrimientos metálicos mediante el examen de secciones transversales con un microscopio electrónico de barrido (SEM). Es destructivo y tiene una incertidumbre inferior al 10 % o 0,1 |jm, lo que sea mayor. Se puede utilizar para espesores de hasta varios milímetros, pero suele ser más práctico utilizar un microscopio óptico (ISO 1463) cuando corresponda.



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