NF C96-022-18*NF EN 60749-18:2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 18: Radiaciones ionizantes (dosis total).

Estándar No.

NF C96-022-18*NF EN 60749-18:2003

Fecha de publicación

2003

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF C96-022-18*NF EN 60749-18:2003

Reemplazar

NF C96-022:1999

NF C96-022-18*NF EN 60749-18:2003 Historia

• 2002 NF C96-022-9:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 9: permanencia del marcado.
• 0000 NF C96-022:1999