DIN EN 60749-12:2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibración, frecuencia variable (IEC 60749-12:2002); Versión alemana EN 60749-12:2002

Estándar No.

DIN EN 60749-12:2003

Fecha de publicación

2003

Organización

German Institute for Standardization

Estado

Remplazado por

DIN EN IEC 60749-12:2018

DIN EN 60749-12 E:2017-08

Ultima versión

DIN EN IEC 60749-12:2018

DIN EN 60749-12 E:2017-08

Reemplazar

DIN EN 60749:2002

Alcance

El documento describe una prueba para determinar el efecto de la vibración de frecuencia variable, dentro del rango de frecuencia especificado, en elementos estructurales internos. Esta es una prueba destructiva. Normalmente es aplicable a paquetes de tipo cavidad.

DIN EN 60749-12:2003 Historia

• 0000 DIN EN 60749-3:2018
• 2003 DIN EN 60749-3:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 3: Inspección visual externa (IEC 60749-3:2002); Versión alemana EN 60749-3:2002
• 0000 DIN EN 60749:2002