Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC)
Alcance
Las pruebas de resistencia de aislamiento superficial (SIR) han estado presentes en la industria electrónica desde la llegada del transistor y la placa de circuito impreso. Se ha utilizado como herramienta para: inspección de entrada; investigaciones y calificaciones de materiales; conformidad de calidad; predicción de mecanismos de falla a largo plazo; y como herramienta predictiva de la vida útil estimada.