Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC)
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Alcance
Este documento define metodologías estándar para calcular métricas de defectos por millón de oportunidades (DPMO) relacionadas con los procesos de ensamblaje de placas electrónicas impresas. Está destinado a medir los pasos de ensamblaje en proceso en lugar de determinar el producto final. El cálculo del DPMO del ítem completado se aborda en IPC-7912.