BS EN ISO 21587-3:2007 Análisis químico de productos refractarios de aluminosilicato (alternativa al método de fluorescencia de rayos X): métodos de espectrometría de absorción atómica y plasma acoplado inductivamente normas y especificaciones

Alcance: Esta parte de la Norma ISO 21587 especifica métodos de espectrometría de emisión atómica/plasma acoplado inductivamente (ICP/AE) y espectrometría de absorción atómica de llama (FAA) para el análisis químico de materias primas y productos refractarios de aluminosilicato. Los métodos son aplicables a la determinación de lo siguiente: 　——óxido de silicio (IV) (SiO2) - óxido de aluminio (Al2O3) - óxido de hierro (III) (óxido de hierro total calculado como Fe2O3) - óxido de titanio (IV) (TiO2) - óxido de manganeso (II) (MnO) - óxido de calcio (CaO) - óxido de magnesio (MgO) - óxido de sodio (Na2O) - óxido de potasio (K2O) - óxido de cromo (III) (Cr2O3) - óxido de circonio (ZrO2) - fósforo ( V) óxido (P2O5) Esta parte de la Norma ISO 21587 ofrece alternativas al método de fluorescencia de rayos X (XRF) indicado en la Norma ISO 12677:2003, Análisis químico de productos refractarios mediante XRF. Método de perlas fundidas fundidas.

BS EN ISO 21587-3:2007 Historia

2007 BS EN ISO 21587-1:2007 Análisis químico de productos refractarios de aluminosilicato (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Aparatos, reactivos, disolución y sílice gravimétrica
0000 BS DD ENV 955-4:1997