JEDEC JESD74A-2007 Procedimiento de cálculo de la tasa de fallos de vida temprana para componentes semiconductores normas y especificaciones

Estándar No.: JEDEC JESD74A-2007
Fecha de publicación: 2007
Organización: (U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association

Alcance: La medición de la tasa de fallas en la vida temprana (ELFR) de un producto generalmente se realiza durante la calificación del producto o como parte de las actividades continuas de monitoreo de la confiabilidad del producto. Estas pruebas miden el rendimiento de confiabilidad durante los primeros meses del producto en el campo. Por lo tanto, es importante establecer una metodología que proyecte con precisión la tasa de fallas tempranas en las condiciones reales de uso del cliente.

JEDEC JESD74A-2007Procedimiento de cálculo de la tasa de fallos de vida temprana para componentes semiconductores