JEDEC JESD57-1996
Procedimientos de prueba para la medición de efectos de un solo evento en dispositivos semiconductores debido a la irradiación de iones pesados

Estándar No.

JEDEC JESD57-1996

Fecha de publicación

1996

Organización

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association

Alcance

Este método de prueba define los requisitos y procedimientos para las pruebas de efectos de evento único (SEE) basadas en la Tierra de circuitos integrados.