(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
Alcance
Este documento define la metodología para la optimización (eliminación, reducción o enfoque alternativo) de los requisitos de detección y prueba MIL-PRF-38535 para microcircuitos MIL-PRF-38535, Clases Q y V. Inherente a esta metodología es la aplicación de "controles de procesos en línea" y técnicas de "SPC" a los procesos de fabricación aplicables. Este documento incluye el proceso de aprobación inicial y mantenimiento posterior de las optimizaciones de pruebas y cribado.