JEDEC EIA-318-B-1996
Medición del tiempo de recuperación inversa para diodos de señal semiconductores [Reemplazado: JEDEC 318-1]

Estándar No.

JEDEC EIA-318-B-1996

Fecha de publicación

1996

Organización

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association

Alcance

Esta norma describe la medición de tiempos de recuperación inversa del diodo de señal (IF 5500 mA CC) de menos de 300 ns de duración. Sin embargo, también se puede utilizar para medir tiempos de recuperación más prolongados.