JEDEC JESD35-2-1996
Criterios de prueba para la prueba a nivel de oblea de dieléctricos delgados Anexo n.° 2 de JESD35

Estándar No.

JEDEC JESD35-2-1996

Fecha de publicación

1996

Organización

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association

Alcance

Este apéndice amplía la utilidad del Estándar JEDEC No. 35 (JESD35) al detallar un método alternativo para determinar el punto final de la prueba de rampa de voltaje y ampliar el rango para la determinación del punto final de la prueba de rampa de corriente.