JEDEC JESD24-12-2004
Medición de impedancia térmica para transistores bipolares de puerta aislada (método Delta VCE(on)) (Este es un método alternativo al estándar JEDEC No. 24-6)

Estándar No.: JEDEC JESD24-12-2004
Fecha de publicación: 2004
Organización: (U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association

Alcance: El propósito de este método de prueba es medir la impedancia térmica del IGBT (transistor bipolar de puerta aislada) en las condiciones especificadas de voltaje aplicado, corriente y duración del pulso. La sensibilidad a la temperatura del voltaje colector-emisor, VCE (encendido), se utiliza como indicador de temperatura de la unión. Este es un método alternativo al estándar JEDEC No. 24-6.

JEDEC JESD24-12-2004Medición de impedancia térmica para transistores bipolares de puerta aislada (método Delta VCE(on)) (Este es un método alternativo al estándar JEDEC No. 24-6)