JEDEC JESD22-C101C-2004 Método de prueba del modelo de dispositivo cargado inducido por campo para umbrales de resistencia a descargas electrostáticas de componentes microelectrónicos
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
Estado
Alcance
Esta norma describe un método uniforme para establecer umbrales de “soportación” de descarga electrostática (ESD) del modelo de dispositivo cargado (CDM). Copyright Solid State Technology Association Reproducido por IHS bajo licencia de JEDEC No se permite la reproducción ni la conexión en red sin licencia de IHS No para reventa --`,,,`,,-`-`,,`,,`,`,,`-- -