JEDEC JESD22-B108A-2003
Prueba de coplanaridad para dispositivos semiconductores de montaje superficial

Estándar No.
JEDEC JESD22-B108A-2003
Fecha de publicación
2003
Organización
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
Estado
Alcance
El propósito de esta prueba es medir la desviación de los terminales (cables o bolas de soldadura) de la coplanaridad para dispositivos semiconductores de montaje superficial.



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