JEDEC JESD22-A119-2004
Vida de almacenamiento a baja temperatura

Estándar No.

JEDEC JESD22-A119-2004

Fecha de publicación

2004

Organización

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association

Alcance

La prueba es aplicable para la evaluación, detección, monitoreo y/o calificación de todos los dispositivos de estado sólido.