JEDEC JESD22-A105C-2004
Ciclos de potencia y temperatura

Estándar No.

JEDEC JESD22-A105C-2004

Fecha de publicación

2004

Organización

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association

Alcance

Este método de prueba se aplica a dispositivos semiconductores que están sujetos a variaciones de temperatura y deben encenderse y apagarse durante todas las temperaturas. La prueba de ciclos de energía y temperatura se realiza para determinar la capacidad de un dispositivo para soportar exposiciones alternas a temperaturas extremas altas y bajas con polarizaciones operativas aplicadas y eliminadas periódicamente. Su objetivo es simular las peores condiciones encontradas en aplicaciones típicas.