CISPR 17:2011
Métodos de medición de las características de supresión de dispositivos de filtrado EMC pasivos.

Estándar No.

CISPR 17:2011

Fecha de publicación

2011

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Ultima versión

CISPR 17:2011

CISPR 17:2011 Historia

• 2011 CISPR 17-2011 Métodos de medición de las características de supresión de dispositivos de filtrado EMC pasivos.
• 1981 CISPR 17-1981 Métodos de medición de las características de supresión de filtros pasivos de interferencias de radio y componentes de supresión.