DIN EN 60749-6:2017-11
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura (IEC 60749-6:2017); Versión alemana EN 60749-6:2017 / Nota: DIN EN 60749-6 (2003-04) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 2020-04-07.

Estándar No.

DIN EN 60749-6:2017-11

Fecha de publicación

2017

Organización

German Institute for Standardization

Ultima versión

DIN EN 60749-6:2017-11

DIN EN 60749-6:2017-11 Historia

• 0000 DIN EN 60749-3:2018
• 2003 DIN EN 60749-3:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 3: Inspección visual externa (IEC 60749-3:2002); Versión alemana EN 60749-3:2002
• 0000 DIN EN 60749:2002