Esta norma establece el procedimiento para probar@ evaluar@ y clasificar dispositivos y microcircuitos según su susceptibilidad (sensibilidad) al daño o degradación por exposición a una descarga electrostática (ESD) de un modelo de dispositivo cargado inducido por campo (CDM) definido. Todos los dispositivos semiconductores empaquetados@ circuitos de película delgada@ dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW)@ dispositivos optoelectrónicos@ circuitos integrados híbridos (HIC)@ y módulos de múltiples chips (MCM) que contengan cualquiera de estos dispositivos deben evaluarse de acuerdo con esta norma. Para realizar las pruebas@ los dispositivos deben ensamblarse en un paquete similar al esperado en la aplicación final. Este documento CDM no se aplica a los probadores de modelos de descarga con casquillo. Este método de prueba combina las características principales de JEDEC JESD22-C101 y ANSI/ESD S5.3.1. Se han introducido nuevos procedimientos de verificación y definiciones de condiciones de prueba para facilitar esta combinación. Propósito El propósito (objetivo) de esta norma es establecer un método de prueba que replicará las fallas del CDM y proporcionará resultados de prueba CDM ESD confiables y repetibles de un probador a otro, independientemente del tipo de dispositivo. Los datos repetibles permitirán clasificaciones y comparaciones precisas de los niveles de sensibilidad a ESD del MDL.