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BS EN 63229 Ed.1.0. Dispositivos semiconductores. Clasificación de defectos en obleas epitaxiales de nitruro de galio sobre sustrato de carburo de silicio.
Inicio
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Estándar No.
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Fecha de publicación
2018
Organización
British Standards Institution (BSI)
Ultima versión
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18/30386543 DC Historia
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