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BS EN IEC 62047-37. Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 37. Métodos de prueba ambientales de películas delgadas piezoeléctricas MEMS para aplicaciones de sensores

Estándar No.

18/30383935 DC

Fecha de publicación

2018

Organización

British Standards Institution (BSI)

Ultima versión

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18/30383935 DC Historia

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