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BS EN IEC 62047-35. Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 35. Método de prueba de características eléctricas bajo deformación por flexión para dispositivos electromecánicos flexibles y plegables.

Estándar No.

19/30364443 DC

Fecha de publicación

2019

Organización

British Standards Institution (BSI)

Ultima versión

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19/30364443 DC Historia

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