IEC 62860:2013(E) IEEE Std 1620-2008
Métodos de prueba IEC/IEEE para la caracterización de transistores y materiales orgánicos.

Estándar No.
IEC 62860:2013(E) IEEE Std 1620-2008
Fecha de publicación
2013
Organización
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Alcance
Se tratan los métodos recomendados y las prácticas de informes estandarizadas para la caracterización eléctrica de transistores impresos y orgánicos. Debido a la naturaleza de la electrónica impresa y orgánica, se pueden introducir errores de medición significativos si el diseño del experimento de caracterización eléctrica no se aborda adecuadamente. Esta norma describe las fuentes más comunes de errores de medición, particularmente...



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