KS C IEC 60512-6-2-2003(2008)
Conectores para equipos electrónicos-Pruebas y mediciones-Parte 6-2:Pruebas de estrés dinámico-Prueba 6b:Bump
Inicio
KS C IEC 60512-6-2-2003(2008)
Estándar No.
KS C IEC 60512-6-2-2003(2008)
Fecha de publicación
2003
Organización
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
Estado
Remplazado por
KS C IEC 60512-6-2:2014
Ultima versión
KS C IEC 60512-6-2:2014
KS C IEC 60512-6-2-2003(2008) Historia
2014
KS C IEC 60512-6-2:2014
Conectores para equipos electrónicos-Pruebas y mediciones-Parte 6-2:Pruebas de estrés dinámico-Prueba 6b:Bump
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KS C IEC 60512-6-2-2003(2008)
2003
KS C IEC 60512-6-2:2003
Conectores para equipos electrónicos-Pruebas y mediciones-Parte 6-2:Pruebas de esfuerzo dinámico-Prueba 6b:Bump
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