KS C IEC 62047-22-2016(2021)
Dispositivos semiconductores ― Dispositivos microelectromecánicos ― Parte 18: Métodos de prueba de flexión de materiales de película delgada

Estándar No.

KS C IEC 62047-22-2016(2021)

Fecha de publicación

2016

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Ultima versión

KS C IEC 62047-22-2016(2021)

KS C IEC 62047-22-2016(2021) Historia

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• 2016 KS C IEC 62047-22:2016 Dispositivos semiconductores ― Dispositivos microelectromecánicos ― Parte 18: Métodos de prueba de flexión de materiales de película delgada