20/30406234 DC
BS IEC 63275-2 Ed.1.0. Dispositivos semiconductores. Método de prueba de confiabilidad para transistores de efecto de campo semiconductores discretos de óxido metálico de carburo de silicio. Parte 2. Método de prueba para la degradación bipolar mediante diodo corporal en funcionamiento.

Estándar No.
20/30406234 DC
Fecha de publicación
2020
Organización
British Standards Institution (BSI)
Ultima versión
20/30406234 DC

20/30406234 DC Historia

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