Este procedimiento proporciona un medio para caracterizar las características estructurales internas de condensadores cerámicos multicapa. La aplicación de los métodos incorporados en este procedimiento @ cuando lo requieran las especificaciones de control de adquisiciones apropiadas @ garantizará el análisis uniforme de los riesgos potenciales de confiabilidad debido a anomalías estructurales en los capacitores cerámicos multicapa. El procedimiento se divide en tres grupos de la siguiente manera: Método de preparación de la muestra Párrafo ?? 3.0 describe dos niveles de preparación de muestras: un procedimiento de decapsulación para condensadores moldeados o encapsulados y un procedimiento de montaje y seccionamiento basado en técnicas metalográficas para cuerpos monolíticos. El procedimiento de montaje y seccionamiento es directamente aplicable a los condensadores de chip cerámico. Requisitos de inspección El párrafo 4.0 cubre el examen microscópico de la terminación y la sección transversal interna del cuerpo del capacitor. Se definen e ilustran las anomalías estructurales. Notas de aplicación El párrafo 5.0 trata sobre las posibilidades de introducir falsas anomalías estructurales@ o alterar las existentes@ durante la preparación de la muestra. Aunque la preparación de la muestra está exactamente definida, se pueden introducir fácilmente alteraciones estructurales sustanciales mediante ligeras desviaciones inadvertidas del método descrito.