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BSIEC 62899-503. Electrónica impresa. Parte 503. Evaluación de la calidad. Método de prueba para las propiedades del canal del transistor de película delgada impreso.
Inicio
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Estándar No.
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Fecha de publicación
2019
Organización
British Standards Institution (BSI)
Ultima versión
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19/30355742 DC Historia
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