IEC 60749-28:2022
Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 28: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de dispositivo cargado (CDM) - nivel de dispositivo
- Estándar No.
- IEC 60749-28:2022
- Fecha de publicación
- 2022
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Ultima versión
- IEC 60749-28:2022
IEC 60749-28:2022 Historia
- 0000 IEC 60749-28:2022 RLV
- 2017 IEC 60749-28:2017 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 28: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de dispositivo cargado (CDM) - nivel de dispositivo
