IPC TM-650 2.6.25B-2016
Prueba de resistencia del filamento anódico conductor (CAF): eje XY

Estándar No.
IPC TM-650 2.6.25B-2016
Fecha de publicación
2016
Organización
IPC - Association Connecting Electronics Industries
Alcance
Este método de prueba proporciona un medio para evaluar la propensión al crecimiento del filamento anódico conductor (CAF), una forma de migración electroquímica, y modos similares de falla del material laminado de formación de filamento conductor (CFF) dentro de una placa de cableado impreso (PWB). Los filamentos anódicos conductores pueden estar compuestos de sales conductoras @ en lugar de iones metálicos catiónicos @ sin embargo, un dieléctrico inadecuado para el voltaje aplicado @ fallas de componentes @ y el uso de piezas que exceden la temperatura máxima de funcionamiento (MOT) del laminado también pueden contribuir a fallas del producto. Este método de prueba se puede utilizar para evaluar materiales laminados de PWB, parámetros de diseño y aplicación de PWB, cambios en el proceso de fabricación de PWB y aplicaciones de conectores de ajuste a presión.



© 2023 Reservados todos los derechos.