ECMA - European Association for Standardizing Information and Communication Systems
Alcance
Este estándar de Ecma especifica un método de prueba de envejecimiento acelerado para estimar la vida útil de la recuperabilidad de la información almacenada en discos ópticos grabables o regrabables. El método se basa en el supuesto teórico de que la vida útil de los datos grabados en un disco óptico tiene una distribución lognormal. Se especifican pruebas detalladas para los siguientes formatos: discos DVD-R/RW/RAM@discos +R/+RW@discos CD-R/RW y discos BD grabables/regrabables. Las pruebas pueden aplicarse a formatos de disco óptico adicionales @ con sustitución de las especificaciones apropiadas @ y también pueden ser actualizadas por el comité en el futuro según sea necesario. Este Estándar Ecma incluye:
——Condiciones de estrés Condiciones de estrés básicas y rigurosas para pruebas y análisis posteriores utilizando los métodos de Eyring y Arrhenius. - ¿condiciones ambientales de almacenamiento en las que se estima la vida útil de los datos almacenados en un disco óptico? A Condiciones de almacenamiento controladas @ 25 ?? y 50 % RH @ que representan aire acondicionado de tiempo completo. El método de Eyring se utiliza para estimar la vida útil en estas condiciones de almacenamiento. ? Una condición de almacenamiento dura @ 30 ?? y 80 % RH @ que representa las condiciones más severas en las que los usuarios manipulan y almacenan discos ópticos. Se utiliza el método de Arrhenius para estimar la vida útil en estas condiciones de almacenamiento. - una descripción del sistema de evaluación - procedimientos para la preparación de muestras y adquisición de datos - definiciones y métodos utilizados en las pruebas de tipos de discos específicos - análisis de los resultados de las pruebas para determinar la vida útil de los datos almacenados - un formato para informar la vida útil estimada de los datos almacenados La metodología Incluye sólo los efectos de la temperatura y la humedad relativa. No intenta modelar la degradación debido a la cinética compleja del mecanismo de falla@ ni prueba la exposición a la luz@ gases corrosivos@ contaminantes@ manipulación@ o variaciones en los subsistemas de reproducción. Se espera que los discos expuestos a estas fuentes adicionales de estrés o niveles más altos de temperatura y humedad relativa experimenten una vida útil más corta.