KS C IEC 60749-18-2006(2016)
Dispositivos semiconductores－Métodos de prueba mecánicos y climáticos－Parte 18: Radiación ionizante (dosis total)

Estándar No.

KS C IEC 60749-18-2006(2016)

Fecha de publicación

2006

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Estado

Remplazado por

KS C IEC 60749-18:2021

Ultima versión

KS C IEC 60749-18:2021

KS C IEC 60749-18-2006(2016) Historia

• 2021 KS C IEC 60749-18:2021 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 18: Radiaciones ionizantes (dosis total).
• 0000 KS C IEC 60749-18-2006(2016)
• 2006 KS C IEC 60749-18:2006 Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos-Parte 18: Radiaciones ionizantes (dosis total)