RF MICROW MDL MEAS TECHNQ FLD EFFT TRANSIS-2010
Técnicas de medición y modelado de RF y microondas para transistores de efecto de campo

Estándar No.
RF MICROW MDL MEAS TECHNQ FLD EFFT TRANSIS-2010
Fecha de publicación
2010
Organización
IET - Institution of Engineering and Technology
Alcance
Este libro combina la técnica de medición y su aplicación en un ejemplo de FET de semiconductores compuestos. El libro muestra un enfoque de cómo tomar la medición y, en base a los datos de medición, iniciar el modelado no lineal de pequeña señal y la extracción de parámetros para los dispositivos. El libro incluye toda la información detallada sobre FETs@ que rara vez aparece en otros libros como este@, por lo que debería ser útil para los nuevos investigadores que se abren camino en sus carreras. Incluso aquellos que no tienen una buena experiencia en microondas@ pueden entender fácilmente el contenido de este libro. La presentación de este libro asume sólo como requisito previo un curso básico en circuitos electrónicos. En lugar de utilizar campos electromagnéticos como muchos de los libros de ingeniería de microondas, el tema se introduce a través de conceptos de circuitos. Autor Jianjun Gao



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