IEEE P1149.1/D2012.e27, September 2012
Arquitectura de escaneo de límites y puerto de acceso de prueba estándar borrador del IEEE

Estándar No.
IEEE P1149.1/D2012.e27, September 2012
Fecha de publicación
2012
Organización
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Alcance
Se definen los circuitos que pueden integrarse en un circuito integrado para ayudar en la prueba, el mantenimiento y el soporte de placas de circuitos impresos ensambladas. Los circuitos incluyen una interfaz estándar a través de la cual se comunican instrucciones y datos de prueba. Se define un conjunto de características de prueba, que incluyen un registro de exploración de límites, de modo que el componente sea capaz de responder a un conjunto mínimo de instrucciones...



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