IPC TM-650 2.3.44-2016 Determinación del espesor y el contenido de fósforo en capas de níquel no electrolítico (EN) mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF)
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Alcance
El propósito de este método de prueba es medir el espesor y la concentración de fósforo (P) de recubrimientos de níquel (Ni) depositados químicamente (no electrolíticamente) mediante análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) (dispersivo de energía). La medición es no destructiva y sin contacto. se puede realizar en atmósfera ambiente o bajo vacío. Las mediciones se realizarán en una característica definida (equivalente a una almohadilla SMT típica) de 1,5 mm x 1,5 mm [0,060 pulg. x 0,060 pulg.] o área equivalente @ utilizando un colimador de 0,6 mm de diámetro. . Esto equivale a un tamaño de punto de medición (área de análisis) de 1 mm de diámetro. Este método de prueba está diseñado principalmente para el análisis de fallas @ calificación de procesos y auditoría de procesos. No está diseñado para el control de producción diario @ debido a la complejidad y el costo del equipamiento requerido.